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全自动激光粒度分析仪
参考价:¥62500

型号:HD-JL800G

更新时间:2024-09-14  |  阅读:67

详情介绍

全自动激光粒度分析仪利用激光散射技术来测量颗粒的粒度分布。激光器产生的单色、单向激光束照射到颗粒样品上,颗粒会散射激光。通过光学透镜系统将散射的光聚焦到光敏探测器上,根据散射光的强度和散射角度,可以确定颗粒的大小。

产品特点:

1、激光智能管理系统——仪器使用国际的激光智能管理系统,实时监测仪器的工作状态,一旦接收到工作的命令智能管理系统会瞬间点亮激光器,高性能激光器会在3秒内达到稳定的工作状态。样品测试完毕后智能管理系统会自动关闭激光器,激光器基本上不会衰减,理论上粒度仪可以终身不需要更换激光器。

2、全智能操作模式——惇点击自动测试(可编辑)即可自动完成吸尘、供气、背景采集、样品分散、采集测量数据、保存、高压吹扫等所有功能,操作人员只需放待测样品,测试结果不受人为因素影响。

3、误操作保护功能——仪器具有误操作仪器无响应功能,手动测试仪器对错误的命令无响应。自动加注分散剂功能——部分样品具有较强的团聚性,需加某些特定的分散剂,人工加注或多或少无法定量,自动加注系统会按需定量加注分散剂,测量结果稳定准确。

4、三镜头技术——傅里叶准直镜头+滤波镜头+标准傅里叶变换镜头单光路三镜头技术的采用,可有效的过滤掉光信号非必要的杂散光,可获取到更纯净的光学背景,提高测量灵敏度。

5、超高速主板——超高速主板,16bit.200kbs的采样速度,样品在激光光束中0.1s即可得出准确结果。

产品参数:

测量原理:全量程激光衍射;

粒径范围:0.1um~800um(全量程测试);

探测系统:76通道均匀交叉及面积补偿多方位阵列;

激光器:进口大功率光纤输出半导体激光器,波长635nm、功率最大20mw;

光学模型:全量程全部米氏散射理论,包含高浓度多重散射动态补偿技术;

滤波方式:三镜头技术,正.反傅里叶变换镜头+滤波镜头;

采集主板:16bit,200kps超高速采集主板,全新一代同时采集主板;

浓度范围:遮光度3%,最高遮光度90%(光学浓度);

镜头:特殊镀膜工艺处理,光信号透过率>99.7%;

光学对中系统:机械中心+光学中心双定位全自动对中系统;

测量时间:典型值<10秒;

测量精度:准确性、重复性Dv50均优于±0.5%(NIST可溯源标准样品);

测量方式:全自动测量

环境温度:0°c~45°C;

环境湿度:10%~-85%相对湿度(无结凝);

电源要求:110V~240V(±20V),5OHz~60Hz;

执行标准:GB/T19077-2016/ISO13320:2009;

外观尺寸:700mm×495mm×300mm;

仪器重量:35kg。

适用范围:

全自动激光粒度分析仪被广泛应用于各种金属、非金属粉︰如重钙、轻钙、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸错、氧化错、氧化镁、氧化锌、河流泥沙、锂电池材料、催化剂、荧光粉、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、纳米材料、造纸填料涂料、各种粉末类样品。

全自动激光粒度分析仪

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