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介质损耗测试仪
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型号:HD-JD1

更新时间:2025-06-18  |  阅读:97

详情介绍

介质损耗测试仪

介质损耗测试仪是各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。


介质损耗测试仪的参考标准
GB/T 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法;
GB/T 1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法;
ASTM-D150-介电常数测试方法;
GB9622.9-88/SJT 11043-1996电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法。

介质损耗测试仪

主要功能
介质损耗因数(tanδ)测量:精确测量绝缘材料的介质损耗因数,评估绝缘性能。
电容量(Cx)测量:测量绝缘材料的电容量,判断其电容特性。
抗干扰能力强:采用变频技术或数字信号处理技术,有效抑制工频干扰和其他电磁干扰,确保测量结果的准确性。
多种测试模式:支持正接法、反接法、自激法等多种测试模式,适用于不同类型的被试品。
数据存储与分析:内置存储功能,可保存测试数据,支持数据导出和分析。
安全保护功能:具备过压、过流、短路等保护功能,确保操作安全。

技术特点
高精度测量:采用高精度测量电路和算法,确保tanδ和Cx的测量精度。
宽测量范围:适用于不同电压等级和电容量的被试品。
便携式设计:体积小、重量轻,便于现场测试。
操作简便:大屏幕液晶显示,中文菜单操作,界面友好。
自动化程度高:一键式操作,自动完成测量、计算和结果显示。

介质损耗测试仪

技术参数

1信号源DDS数字合成 10KHZ-70MHz
2采样精度11BIT
3测量范围1-1000自动/手动量程
4分辨率0.1
5测量工作误差<5%
6电感测量范围分辨率0.1nH
7电感测量误差<3%
8调谐电容主电容30-540pF
9电容直接测量范围1pF~2.5uF
10调谐电容误差±1 pF或<1% 0.1pF
11谐振点搜索自动扫描
12合格预置范围5-1000声光提示
13LCD显示参数F,L,C,Q,Lt,Ct等
14介质损耗系数精度万分之一
15介电常数精度千分之一
16材料测试厚度0.1mm-10mm
17技术仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置,直接读值。


介质损耗测试仪


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